EL Chip电测检查设备

CST_ELCheck

本设备为蓝宝石基板磊晶制作完LED芯片后自动分检。作业目的为用直觉式电讯LED检查,确认LED金属电极脚的导通,作LED好坏判定用途。

功能

  • 亮度信息(亮点、暗点)
  • 坏点检出,记忆坐标
  • 检出良率统计、总defect 数显示
  • 可依产品自由定义map形式呈现坏点(AA区)
  • 在AA区范围内可分辨LED是否点亮(硬件分割阶段取像,产品需有辅助Mark for 检查用)
    (视产品规格及作业参数而定)
  • 可依产品自由定义small size defect, Middle size defect, Large size defect, over size defect功能

优势

可于制程前提前检查LED好坏,避免后续制程损失