EL Chip电测检查设备
功能
- 亮度信息(亮点、暗点)
- 坏点检出,记忆坐标
- 检出良率统计、总defect 数显示
- 可依产品自由定义map形式呈现坏点(AA区)
- 在AA区范围内可分辨LED是否点亮(硬件分割阶段取像,产品需有辅助Mark for 检查用)
(视产品规格及作业参数而定)
- 可依产品自由定义small size defect, Middle size defect, Large size defect, over size defect功能
优势
可于制程前提前检查LED好坏,避免后续制程损失