PL检查机

Hamamatsu_PL
PL检查机

此设备有着高效率量测能力，可以在wafer上测量MicroLED chip by chip PL强度及波长，并于20分钟内测量完成，且具备分析功能，能分析MicroLED组件的质量。

规格表

1. 高效率量测能力：
  • 可在20分钟内完成每一个LED的PL强度及波长量测(于100mm x 100mm区域内)
2. 分析功能：
  • 用于分析MicroLED零组件的质量的光谱及时间解析光致发光(TR PL)的Chip by Chip依序量测

代理品牌 日本Hamamatsu

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