EL Chip電測檢查設備
本設備為藍寶石基板磊晶製作完LED芯片後自動分檢。作業目的為用直覺式電訊LED檢查，確認LED金屬電極腳的導通，作LED好壞判定用途。
功能
- 亮度資訊 (亮點、暗點)
- 壞點檢出，記憶座標
- 檢出良率統計、總defect 數顯示
- 可依產品自由定義map形式呈現壞點 (AA區)
- 在AA區範圍內可分辨LED是否點亮(硬體分割階段取像，產品需有輔助Mark for 檢查用)
(視產品規格及作業參數而定)
- 可依產品自由定義small size defect, Middle size defect, Large size defect, over size defect功能
優勢
可於製程前提前檢查LED好壞，避免後續製程損失
