ウェハー反り測定装置
応用プロセス
ウェハー反り測定装置は、あらゆる半導体プロセス(フロントエンド/バックエンド/パッケージなど)に適用できます。
利点
ウェーハの反り差を効果的に管理し、プロセス中の製品ロスを防止・回避します。
仕様と特徴
- 8インチと12インチウェハー対応
- 測定ヘッド測定繰り返し精度±0.5μm
- ロボット反り対応能力:+6mm/-6mm
- 適用ウェハー厚さ:430~980um
- 測定方式:360°測定
- 最小測定角度設定値は1°です
- 装置測定繰り返し精度:±1um
- E84とSECS/GEM通信仕様対応